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高壓陶瓷電容器的測(cè)驗(yàn)方法
高壓陶瓷電容器
高壓陶瓷電容器的可靠性測(cè)驗(yàn)，也叫老化測(cè)驗(yàn)，壽數(shù)測(cè)驗(yàn)，包含很多方面的測(cè)驗(yàn)內(nèi)容：
1、串聯(lián)電阻測(cè)驗(yàn)，絕緣電阻測(cè)驗(yàn)；
2、拉力測(cè)驗(yàn)，即引線與芯片焊接的結(jié)實(shí)度；
3、正負(fù)溫改變率測(cè)驗(yàn)，即-40度到+60度狀況下，電容的改變率；
4、老化測(cè)驗(yàn)，高壓陶瓷電容在模仿作業(yè)環(huán)境狀態(tài)下運(yùn)作30~60天，測(cè)驗(yàn)其衰減其各項(xiàng)參數(shù)的改變；
5、耐壓試驗(yàn)，包含額定作業(yè)電壓24小時(shí)作業(yè)測(cè)驗(yàn)；也包含擊穿耐壓，即破壞性測(cè)驗(yàn)，電容被擊穿前的那一個(gè)臨界電壓就是擊穿電壓。
6、局放測(cè)驗(yàn)，即部分放電測(cè)驗(yàn)；
7、壽數(shù)測(cè)驗(yàn)，即在老化測(cè)驗(yàn)的基礎(chǔ)上，再對(duì)電容進(jìn)行高頻沖電流下快速充放電測(cè)驗(yàn)，得到的充放電次數(shù)就是充放電壽數(shù)，留意，這個(gè)壽數(shù)的得出是在長(zhǎng)時(shí)間的老化之后得出的。
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